罗德与安培Schwarz增强了其高质量的汽车天线罩测试仪R＆amp; S QAR，这是一种用于雷达集成测试的定制解决方案，可以分析和评估与雷达兼容性相关的天线罩（汽车徽标）和保险杠。 OEM OEM和一级供应商使用新的R＆amp; S QAR-K50单天线簇测量软件以无损的二维方式执行测量，并且可以获得非常接近矢量的测量结果网络分析仪（VNA）。
）和准光学（QO）设备。另外，用户将从R＆amp; S QAR的直观操作概念中受益。
R＆amp; S QAR是适用于天线罩和保险杠的测试和验证的毫米波成像系统。由于其出色的性能，速度，质量和直观的操作，该系统已成为完美的工具。
应用范围涵盖天线罩材料和76 GHz至81 GHz的集成测试，包括研发，生产和验证。每节课。
高空间分辨率是以更大的入射角扩展为代价的。典型的雷达传感器具有特定的视场（FOV），例如，全范围雷达（FRR）为±10度，而短程雷达（SRR）为±60度。
根据材料表征技术，天线罩的反射参数主要由垂直入射角定义，因为这些参数可以使用矢量网络分析仪（VNA）进行测量。 R＆amp; S QAR-K50软件选件就是基于此主题的。
将R＆amp; S QAR提供的结果与使用标准矢量网络分析仪（VNA）和准光学（QO）设备测得的结果进行比较。通过R＆amp; S QAR使用的较大孔径，可以观察和解释测试对象。
一些错误。这就是R＆amp; S QAR-K50软件选件发挥作用的地方。
它将自动检测材料样品中的最高反射率和测试区域的平均值。可以在7秒钟内确定反射区域的平均值，并将测量结果显示给用户。
该值与VNA的S11和S22的反射测量结果紧密匹配。现在可以将在开发过程中使用VNA和QO设备进行的测量结果直接与R＆amp; S QAR的测量结果进行比较。
该系统仍使用微波成像技术，但天线孔径较小，因此对定位误差的敏感性较低，比VNA设备更适合生产环境。即使样品定位有微小的公差，R＆amp; S QAR-K50软件也可以自行检测正确的测量区域，并向操作员提供光学反馈。
现在，R＆amp; S QAR将适用于均匀性分析的高分辨率图像（R＆amp; S QAR-K10软件）与稳健且易于使用的反射率测量相结合。使用R＆amp; S QAR-K50软件选件获得的测量值可以直接等同于VNA在QO设置中提供的结果。
R＆amp; S QAR-K50是用于单天线群集测量的软件选件。可以使用最新版本的固件将其安装在R＆amp; S QAR的所有Windows 10版本上。
可以通过输入键密码来激活它。现在可以从Rohde＆amp;定购此选项。
施瓦茨